1，形貌儀采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級(jí)的分辨率

 

2，測(cè)量具有非破壞性，測(cè)量速度快，度高

 

3，測(cè)量范圍廣，可測(cè)透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；

 

4，尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面

 

5，形貌儀不受樣品反射率的影響

 

6，形貌儀不受環(huán)境光的影響

 

7，測(cè)量簡(jiǎn)單，樣品無需特殊處理

 

8，Z方向,測(cè)量范圍大：為27mm